- 非IC关键词
企业档案
产品分类
- 逻辑IC(1)
- 双向可控硅(晶闸管)(2)
- 可控硅(晶闸管)模块(2)
- 功率电感(1)
- 密封式电位器(1)
- 光电/光敏传感器(8)
- 光学传感器(6)
- 电磁传感器(2)
- 磁敏传感器(1)
- 霍尔传感器(1)
- 电流(压)传感器(6)
- 电量传感器(1)
- 电场传感器(1)
- 电导率传感器(1)
- 压电传感器(4)
- 温(湿)度传感器(57)
- 声波/声敏传感器(1)
- 光纤/激光传感器(10)
- 测距/距离传感器(13)
- 视觉/图像传感器(18)
- 微波传感器(1)
- 光栅(幕)传感器(1)
- 压力传感器(157)
- 力敏传感器(4)
- 称重传感器(18)
- 测力/力矩/扭矩传感器(40)
- 速度传感器(5)
- 加速度传感器(31)
- 气体/气敏/烟雾传感器(100)
- 液位传感器(10)
- 物(料)位传感器(7)
- 振动/接近/位移传感器(108)
- 线性传感器(2)
- 流量传感器(14)
- 风速/风向/风量传感器(1)
- 角度/倾角传感器(13)
- 色标/颜色传感器(1)
- 火焰(警)传感器(3)
- 旋转传感器(1)
- 位置传感器(2)
- 长度传感器(1)
- 陀螺仪(2)
- 其他传感器(126)
- 其他变压器(1)
- 其它逆变器(1)
- 放大器(31)
- 其他扬声器(1)
- 其它电声(扬声器)配件(2)
- 光纤/光缆(3)
- 光/光纤衰减器(2)
- 光纤收发器(1)
- 光纤分支/分路/分配器(1)
- 光纤适配器(2)
- 光纤藕合器(1)
- 光纤网卡(1)
- 激光头(1)
- 激光器(9)
- 其他光电子、激光器件(8)
- 字符/字段/图形点阵LCD液晶显示模块(屏)(3)
- TFT LCD液晶显示屏(模块)(4)
- VFD荧光显示模块(屏)(2)
- 触摸屏(34)
- DLP光显屏(组件)(1)
- 其他显示器件(5)
- 门禁考勤系统(1)
- PCB板卡(1)
- 万用表/多用电表(4)
- 毫欧/毫伏表(1)
- 兆欧表(摇表)(1)
- 电桥(1)
- 衰减器(3)
- 示波器(12)
- 高(耐)压/绝缘测试仪(3)
- 信号发生器/信号源模块(4)
- 功率计(8)
- 功率分析仪(2)
- 光功率计(5)
- 亮度/照度计(1)
- 噪声系数测试/分析仪(1)
- 阻抗分析仪(1)
- 频谱分析仪(2)
- 网络分析仪(4)
- 网络测试仪(2)
- 表面/接地/绝缘电阻测试仪(20)
- 综合测试/分析仪(1)
- 电磁兼容(EMC)测量仪器(1)
- 点温计(1)
- 测量探头及附(配)件(159)
- 其它电子测量仪器(134)
- 其他试验设备(2)
- 静电消除器(棒/机)(1)
- 五金/工具(35)
- 其他(122)
供应德国菲希尔X射线膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230//240
X射线膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230//240
德国菲希尔
220V
1276500.0
相关产品
产品信息
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用手动方式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。德国菲希尔X射线膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230//240
X射线镀层测厚仪简介:
德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL210/220/230/240特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240典型的应用领域有:
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层,例如:装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 测量印刷线路板
• 分析电镀溶液
XDL230有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。
由于采用了FISCHER完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
设计理念:
德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台,马达驱动的Z轴系统。
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以定位测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察测量过程和进度。
测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。
带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的调整。
所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。
XDL型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器,型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。
通用规格
设计用途:能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液分析。
元素范围:从元素 氯(17) 到 铀(92) 配有可选的WinFTM® BASIC软件时,多可同时测定24种元素
设计理念:台式仪器,测量门向上开启
测量方向:由上往下
X射线源
X射**:带铍窗口的钨管
高压: 三档: 30 kV,40 kV,50 kV
孔径(准直器): Ø 0.3 mm 可选:Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;长方形0.3 mm x 0.05 mm
测量点尺寸:取决于测量距离及使用的准直器大小, 实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 的测量点大小约Ø 0.2mm
X射线探测
X射线接收器:测量距离
比例接收器:0 ~ 80 mm,使用保护的DCM测量距离补偿法
样品定位
视频系统:高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置 手动聚焦,对被测位置进行监控十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸) 可调节亮度的LED照明,激光光点用于定位样品
放大倍数:40x – 160x
电气参数
电源要求:220 V ,50 Hz
功率:** 120 W (不包括计算机)
保护等级:IP40
尺寸规格
外部尺寸:宽×深×高[mm]:570×760×650
内部测量室尺寸:宽×深×高[mm]:460×495x(参考“样品**高度”部分的说明)
重量:107 kg
环境要求
使用时温度:10°C – 40°C
存储或运输时温度:0°C – 50°C
空气相对湿度:≤ 95 %,无结露
工作台
设计:手动X/Y平台
X/Y平台**移动范围:95 x 150 mm
可用样品放置区域:420 x 450 mm
Z轴:马达驱动
Z轴移动范围:140 mm
样品**重量:20kg
样品**高度:140 mm
激光(1级)定位点:有
计算单元
计算机:带扩展卡的WINOOWs®计算机系统
软件 标准: WinFTM® V.6 LIGHT
可选: WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPER
执行标准CE合格标准:EN 61010
型式许可:作为受完全保护的仪器 型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。
订货号
FISCHERSCOPE X-RAY XDL230:604-496
如有特殊要求,可与FISCHER磋商,定制特殊的XDL型号。